您现在所在的位置:27111.com新葡京>>科技创新>>院所实验室>>院级重点实验室
集成电路测试技术研究中心概况
发布时间:2010-10-25 11:42

01.概况与研究方向

集成电路测试技术实验室是以北京自动测试技术研究所为依托单位,联合中国科学院微电子所和北京确安科技股份有限企业共同组建。2011年5月经北京市科委认定为“集成电路测试技术北京市重点实验室”。

实验室集合了三方在集成电路、半导体器件等领域的人才资源和测试资源,共同开展:集成电路(包括:SoC、CPU、DSP、MCU、超大容量FPGA、ASIC、信息安全、高密度大容量智能卡、多媒体、电源管理、通讯、汽车电子、射频、电力电子等电路)测试理论和方法研究;高端集成电路测试系统(包括:数字、模拟及数模混合信号等)技术研究与开发;半导体器件(汽车电子、电力电子、太阳能模块等)测试系统技术研究与开发;电子元器件可靠性试验技术与方法研究。目前研究用房5530平米,研究所需专用仪器设备130台/套,价值9175万元。

02.研究进展与成果

实验室自认定以来,突破了混合信号集成电路测试的高速、多管脚、高频及多路并测等关键及难点技术,开发完成多款CPU、SoC、DSP、FPGA、RF和信息安全等芯片测试App,实现了为我国“核高基”专项自主研发的高端通用芯片提供测试技术支撑;在对新一代电力电子器件测试的国产化问题上,突破了击穿电压±3000V/50mA,脉冲式输出电流500A这一关键技术,解决了功率器件的高压大电流条件下动态参数的测试,降低了国内企业的测试成本,提高企业在市场中的竞争力;针对国内太阳能电池模块的测试需求,对电池模块光谱响应技术进行攻关,研究太阳能电池模块的测试方法,确定太阳能电池模块测试方案,创新开发出太阳能电池模块I-V特性测试系统,实现了太阳能电池模块多项参数的测试;针对国际的禁运、中国的“空芯”化问题及国家01、03重大专项中的核心电子器件、高端通用芯片等,开展高可靠试验评价技术与方法研究。

近年来,成功研发出“智能卡专用测试系统”、“电源管理芯片测试系统”、“电力电子器件测试系统”、“太阳能电池测试系统”、“锂电池测试系统”及霍尔器件测试系统等,获北京市科学技术奖4项,获中国半导体创新产品奖1项,获中国电子信息产业集团企业科技进步奖1 项,获27111.com新葡京_www.27111.com_澳门新匍京网址【注册送彩金】优秀成果奖3项。

 

■智能卡专用测试系统——2011年获北京市科学技术奖

■国产IC设备测试矢量转换工具——2012年获北京市科学技术奖

■电源管理芯片测试系统——2013年获北京市科学技术奖

■智能卡专用测试系统——2013年获中国半导体创新产品奖

■极大规模集成电路测试技术研究及产业化应用——2013年获中国电子信息产业集团科技进步奖

说明: 获奖、常识产权 036.jpg

智能卡专用测试系统

智能卡专用测试系统是利用多年来在集成电路测试技术方面所积累的丰富经验,在对国际先进测试系统进行消化与吸取的基础上,创新性研制出的具有自主常识产权、适合国情的高性价比智能卡专用测试系统。

该测试系统通过采用共享资源结构、高速指令译码优化设计、测试向量转换和压缩、高速算法图形产生器、多路并行测试、以及支撑多种测试语言的自动生成与交互移植等技术,使测试系统具备了:① 测试指令集,支撑复杂向量匹配、触发、同步功能;② 测试向量移植App,使不同测试系统间测试向量可在自行研制的专用测试系统上使用;③ 系统的高性能使测试程序转换快速、灵活; ④ 较强的失效分析功能,设计有每通道失效存储器,用于失效分析;⑤ 16路并行的产业化测试能力。

该测试系统具备了高速、低功耗、开放性、标准化、易于升级和维护、性价比高等优点,满足了各类智能卡芯片测试需求,到目前为止,已完成了第二代证居民身份证、社保卡、加油卡等智能卡芯片的产业化测试任务,产生了较好的经济效益与社会效益。该测试系统于2011年获北京市科学技术三等奖,2013年获中国半导体创新产品和技术奖。

电源管理芯片测试系统

说明: 电源管理类芯片测试系统.JPG

随着全球能源需求的不断增长,自然资源的日渐匮乏极大地推动了电源管理芯片市场的快速发展,这给集成电路设计与制造企业带来了勃勃生机,同时也给集成电路测试业带来极大的发展空间。多年来由于我国集成电路测试业起步晚,国内的集成电路测试系统基本由美国、日本等发达国家所垄断,其昂贵的价格,高昂的售后服务成本,增加了国内集成电路设计、制造与应用企业成本,制约了产业的发展。电源管理芯片的设计、制造技术基本成熟,应用面广,产量高,但芯片的利润不高,而国内又没有适合该类芯片测试需求的高性价比专用测试系统。为此,北京自动测试技术研究所以市场需求为导向,把多年来对集成电路测试技术及测试系统的研究资源优势转化为产业竞争优势和社会发展优势,并在北京市科技计划项目的支撑下,创新性的研制出适合国内电源管理芯片测试需求的专用测试系统。该测试系统性价比高,即具有专门针对线性电源管理类芯片测试要求的模块,又具有专门针对DC/DC(开关型)电源管理类芯片测试要求的模块,在进行晶圆测试时,可提供32路烧铝电源,并解决了电源管理芯片中含MOS高速大功率开关管的击穿电压与漏电流的测试问题,同时具有多路并行产业化测试能力,对降低电源管理类芯片的测试成本,提高测试效率和芯片利润,以及增强集成电路企业在市场中的竞争力起到积极的推动作用。可满足设计、制造等企业对电源管理类芯片的设计验证及产业化测试需求,以此提升北京地区集成电路测试产业的核心竞争力,推动首都经济的快速发展。该测试系统于2012年获北京市科学技术三等奖。

宇航元器件地面模拟试验和仿真评估技术

说明: 可靠性实验室 040.jpg

紧跟国际检测技术前沿,在充分分析空间环境任务应力剖面和失效模式、失效机理的基础上,结合宇航元器件应用物理和统计物理理论,建立空间环境热效应、辐照效应、寿命退化等地面模拟等效试验模型,通过试验验证、应用验证、数据仿真分析,形成宇航元器件地面模拟试验方法和程序,建立故障预计和仿真评估App工具,支撑星地试验并进行科学、快速评价和分析。

该项技术含盖了宇航元器件热真空试验、长寿命试验评价、内部有害气氛分析、空间辐照环境试验及仿真评估四项关键技术,形成了高端FPGA、CPU等芯片的抗空间环境(热真空、单粒子、低剂量效应)试验评估方法和程序,建立了单粒子数字仿真和故障预计算法,打破了国外的技术封锁,实现了宇航特种试验理论、试验方法和试验技术的创新发展,填补了国内空白,达到国际先进水平。

该项技术可促进我国航天、航空与国防装备的成功研制、试验保障及科技水平的提升,促进空间环境试验领域技术的发展和标准的统一。到目前为止,该项技术已应用于航天试验卫星工程、北斗导航工程、国防重点工程等国家重大专项,提高了FPGA、CPU、MCU、SRAM、DC/DC、AD/DA、RFID等高可靠集成电路试验评价的科学性、有效性,故障覆盖率从70%提高到95%,服务用户数十家,取得较好的社会经济效益。同时,为北京地区集成电路产业提供了专业化、深层次和高水平的高可靠试验评价服务。

联系方式

地址:北京市北三环中路31号

邮编:100088

电话:010-82009275

传真:010-82009271

E-mail:bjtest@bjtest.com.cn

XML 地图 | Sitemap 地图